伴隨著工業(yè)化技術(shù)性的快速發(fā)展趨勢，電焊工、電子設備的主要用途日漸寬闊，所承受的自然環(huán)境標準也越來越繁雜多種多樣。電焊工、電子設備開展環(huán)境模擬自然環(huán)境實驗是確保其高品質(zhì)所不可或缺的關(guān)鍵步驟。自然環(huán)境標準的多元化和自然環(huán)境實驗的必要性也對高低溫試驗箱明確提出了更嚴苛的規(guī)定。

電子設備，無論是元器件構(gòu)件，整個設備，機器設備，必須開展脆化和檢測。脆化和檢測并不是一個定義先脆化后檢測.電子設備(全部商品全是那樣)根據(jù)生產(chǎn)加工后，產(chǎn)生了詳細的商品，早已能夠 充分發(fā)揮實用價值了，但應用之后發(fā)覺會出現(xiàn)那樣那般的問題，又發(fā)覺這種問題絕大多數(shù)產(chǎn)生剛開始的幾個小時至幾十鐘頭以內(nèi)，之后果斷就要求了電子設備的脆化和檢測，模仿或是等效電路商品的應用情況。

這一全過程關(guān)鍵根據(jù)高低溫試驗箱來模似特殊的自然環(huán)境進行高低溫試驗，把不太好的商品留到加工廠一切正常的商品給客戶，以確保買給客戶的商品是靠譜的或是是難題較少的，這就是高低溫試驗的實際意義。

高低溫試驗箱用于高溫儲存

電子元器件的故障主要是由機體和表面的各種物理化學變化引起的，與溫度密切相關(guān)。溫度升高后，化學反應速度大大加快，故障過程也加快。有缺陷的部件可以及時暴露和清除。

半導體器件廣泛采用高溫篩選，能有效去除表面污染.鍵合不良.氧化層缺陷等是失效機制的器件。通常在最高結(jié)溫下儲存24至168小時。

高溫篩選簡單、便宜，可以在許多部件中實現(xiàn)。高溫儲存后，可以穩(wěn)定電子元器件的參數(shù)性能，減少使用時的參數(shù)漂移。合理選擇各部件的熱應力和篩選時間，防止新的故障機制。

高低溫試驗箱用于篩選功率和電老化

在篩選過程中，在熱電應力的綜合影響下，能夠有效的暴露出電子元器件本體和表面的多種潛在缺陷，是可靠性篩選的重要本身。

各種電子元器件通常在額定功率環(huán)境中老化數(shù)小時至168小時。有些產(chǎn)品，如集成電路，不能隨意改變條件，但可以選擇高溫工作方法，提高工作溫度，達到高應力狀態(tài)。應適當選擇電子元器件的電應力，可等于或略高于額定條件，但不能引入新的失效機制。

電源老化需要特殊的檢測設備，成本高，篩選時間不宜過長。民用產(chǎn)品一般需要幾個小時，軍用高可靠性商品可以選擇100、168小時，航空級部件可選擇240小時甚至更長的周期。

高低溫試驗箱的溫度循環(huán)

電子設備在使用過程中會遇到不同的環(huán)境溫度條件。在熱脹冷縮的應力影響下，熱匹配性能差的電子元器件容易出現(xiàn)故障。溫度循環(huán)篩選利用極高溫和極低溫之間的熱升冷縮應力，可以有效去除熱性能缺陷的商品。電子元器件常用的篩選條件為-55℃～125℃，循環(huán)5～10次。